从器件到光互联
让测试问题有据可循

以测试任务为起点,连接光谱表征、光路诊断与多通道验证。

面向光通信、硅光集成与前沿光子应用,将测量指标与工程问题关联,为研发验证、工艺优化和品质判定提供可追溯的依据。

找到你的测试任务 ↓
晶圆表面与芯片阵列,应用领域示意
从单个结构,到更复杂的光学链路。配图为应用示意。

你的被测件
正在回答什么问题?

按领域筛选,或直接从具体测试任务进入。每个方案都从指标的工程价值出发,再明确测量方法与配置边界。

6 个测试任务

不是孤立的指标
而是连续的工程判断

被测件和工位会变化,测量条件、参考方法与结果记录需要保持清晰。

  1. 01 / DESIGN

    研发验证

    比较光谱与传输响应,理解设计与实测的差异。

  2. 02 / ASSEMBLY

    耦合与封装

    观察接入和装配前后的光路变化,缩小异常范围。

  3. 03 / INTEGRATION

    多通道验证

    将实际路径与测试结果关联,比较各通道表现。

  4. 04 / QUALITY

    品质判定

    在确认的方法与阈值下判定,留下复核依据。

看见响应
也追问异常在哪里

光谱信息帮助理解器件随波长的响应;相干光测量空间信息为反射与光路异常提供位置线索。再将测量条件、器件结构和结果关联,让工程判断有据可循。

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01 / SPECTRAL

光谱与传输

回答“器件表现如何”,关注波长响应、损耗与偏振相关差异。

02 / SPATIAL

空间诊断

进一步追问“问题可能在哪里”,结合事件位置与结构分析。

03 / CONTEXT

条件与依据

保留参考面、路径、配置与版本,使比较和复测有上下文。

集成测量
也支持按需组合

OVX 内置 TSL;独立 TSL 面向用户自建系统。外部光路控制和基础测量仪器按任务选配,不默认全部属于 OVX 标配。

OVX 系列

内置 TSL 的集成光学测量与分析平台。

Trace mini / Standard / Pulse* / Pro*

独立 TSL 与光路控制

自建系统的可调光源、通道切换与偏振控制。

OVX-TLS / OVX-SW / OVX-PC

光谱与偏振分析

按任务补充独立光谱、偏振态及 PDL 分析。

OVX-OSA / OVX-PA / OVX-PDL

* Pulse 与 Pro 为待发布系列;所列参数为方案值,最终配置、功能及供货时间以正式发布的技术文件为准。
以上独立仪器系列代号沿用产品家族工作方案,属于暂用名称;具体型号、接口、可用功能与交付状态以确认的技术文件为准。光开关轮巡不等于多通道同时采集。

降低学习成本
延续测量经验

高效、简洁、模块化、平台化、标准化。以 Web GUI、SCPI 和统一测量 API 的设计思路,让交互操作与自动化接入共享明确的测量语义。

OVX-Studio 组织测量与分析;OVX-StoreX 管理应用和版本;技术服务平台关联现场记录与问题处理。具体开放范围按产品版本确认。

探索软件平台与标准化 ↗