IL / RL / PDL
传输与偏振特性
评估插入损耗、回波损耗与偏振相关损耗，用于器件性能分析和通道质量比较。
OPTICAL VECTOR EXPLORER
OVX 全参数
光矢量分析平台
在同一平台测量光路损耗、反射位置、偏振特性与光谱功率分布。
以 TSL 调谐激光器与相干光测量为核心，连接扫频光源、器件分析和多通道测试；按配置结合 OSA 分析光功率随波长的分布、谱峰与光谱带宽，服务光通信与硅光集成研发。
OSA 的光谱类型、分辨率及可用功能以确认配置为准。
IL / RL / PDL光路质量与偏振测量
相干光测量空间反射与故障定位
O + CPulse / Pro* 双波段方案
1 / 32 / 64 ch按型号配置测试通道
01 / MEASUREMENT
看清光路的每一项关键表现
从端到端损耗到空间分布，建立同一被测件同一状态下的多维测量结果。
相干光测量
反射与空间诊断
通过沿光路的反射分布，识别异常位置，辅助分析连接、耦合及光波导中的缺陷。
OSA / λ
光谱与波长分析
结合光谱分析与波长测量能力，为光功率谱分析与波长验证提供数据依据。
MEMS 1:N
多通道自动轮巡
通过 MEMS 光开关连接多个通道，自动完成扫描与分析，减少逐通道切换操作。
TSL / TUNABLE LASER
TSL 调谐激光器
让每一次扫频有据可循
以宽范围调谐、精确波长和窄线宽，为器件光谱表征与相干测量提供可控光源。
110 nm*
1500–1610 nm 调谐范围
0–1000 nm/s 扫频速度可调
±0.2 pm*
绝对波长精度
波长重复性 ±0.05 pm
≤100 kHz*
光源线宽
边模抑制比 ≥50 dB
±0.1 pm / 24 h*
24 小时波长稳定性
输出功率 ≥10 mW
* 本节数值为覆盖 C 波段的 1500–1610 nm 光源配置参考；精度、重复性、线宽、稳定性及功率指标的适用模式与测试条件须按型号确认。
O 波段为独立选配，调谐范围及上述性能指标另行确认；不代表从 O 波段到 C 波段连续调谐，也不代表所有 OVX 型号采用同一光源。
查看完整光源参数
- 线性扫频线性度
- ≥99%
- 功率稳定性
- ≤1%
- 额定功率
- <30 W
参数适用范围见上方星号说明；选型时确认扫描模式、速度、环境条件与交付指标。
以下按被测对象与测试目的划分；TSL 提供受控光源，探测、偏振与运动控制按任务选配。
光通信
验证 WDM 器件的传输指标
面向封装后的滤波器、复用器与解复用器，以可调波长光源配合功率探测与参考光路，测量插入损耗、通带及通道隔离度，为器件选型、来料检验与出厂测试提供依据。
硅光集成
建立 PIC 设计与工艺的器件级基线
面向晶圆与裸片上的波导、微环和干涉仪测试结构，配合光学耦合与探测记录透射谱，提取谐振波长、自由光谱范围与消光比，用于设计验证、工艺比较和芯片筛选。
光计算与光量子
为可编程光路与光子实验设定输入
面向可编程干涉网络与光子实验平台，提供可设定波长的输入，配合外部调制、控制与探测完成经典光路校准和参数扫描。相干性、相位噪声与波段适配需按实验确认；单光子制备与量子态测量需另配专用系统。
02 / PRODUCT SERIES
从单通道验证，到多通道测试
根据测试波段、通道数量和分析精度，选择适合的 OVX 配置。
当前选择
咨询 Pulse 配置 ↗KH-OVX-Pulse*
32 通道与 O+C 双波段配置，面向多通道器件分析与自动化测试方案。
| 参数 | Trace mini | Standard | Pulse* | Pro* |
|---|---|---|---|---|
| 通道数 | 1 | 1（可扩展 16 / 32） | 32 | 64 |
| 测试波段 | C-band | C-band | O+C 双波段 | O+C 双波段 |
| RL 动态范围 | ≥70 dB | ≥85 dB | ≥85 dB | ≥110 dB（EDFA） |
| 空间分辨率 | ≤100 μm | ≤12 μm | ≤8 μm（C-band） | ≤8 μm（C-band） |
| OSA 分辨率 | — | 0.08 nm | 0.08 nm | 0.048 nm |
| 波长计精度 | — | ±0.3 pm | ±0.2 pm | ±0.2 pm |
* Pulse 与 Pro 为待发布系列；所列参数为方案值，最终配置、功能及供货时间以正式发布的技术文件为准。
以上为系列方案参数，具体能力及测试条件以双方确认的配置与技术规格书为准。产品图片为平台外观示意，不代表各型号的全部硬件配置。
PORTABLE / TRACE MINI
Trace mini
把光链路测量带到现场
KH-OVX-Trace mini · 便携式光链路测试仪
单通道 C-band 配置，以紧凑的仪器形态支持光链路干涉测量与异常定位。
- 通道
- 1
- RL 动态范围
- ≥70 dB
- 空间分辨率
- ≤100 μm
参数来自产品系列方案；测试条件以确认的技术规格为准。图中 TM-600 为外观铭牌标识。
03 / APPLICATIONS
连接研发与制造的测试环节
围绕 CPO 与硅光器件的四道 Insertion，按工位任务组织光学测试。
PIC 晶圆初筛
在绑定前关注光波导的 IL、RL、PDL 特性，辅助识别光路异常。
关注：光学质量筛选键合与耦合分析
利用相干光测量反射信息分析键合后的光路完整性，辅助耦合对位方案验证。
关注：连接与对位光引擎多参数检测
面向光引擎及多通道器件，结合损耗、偏振、波长与光谱分析。
关注：全通道一致性成品与可靠性验证
对成品模块开展光学参数验证，为出厂判定和可靠性分析提供记录。
关注：结果与追溯典型被测件硅光芯片 PICCPO 光引擎XPO 模块AOC / 光模块
04 / PLATFORM
统一测量平台，
适配不同测试任务
相干光扫频测量连接 MEMS 多通道轮巡，再将扫描数据交给分析软件，形成完整的测试流程。
- 01相干光扫频测量获取光路反射与传输信息
- 02MEMS 1:N 自动轮巡依次接入被测件的多个通道
- 03扫描分析与结果判定参数分析、异常定位与 Pass / Fail
DESIGNED FOR DAILY OPERATION
触屏分析与实体操作协同
- 双窗口波形
- 在活动窗口内完成显示缩放、光标定位与结果分析。
- CURSOR 与方向环
- 按压选择光标类型，旋转微调，方向键完成位置操作。
- 专用采集与保存键
- START / STOP 控制采集，SAVE RESULT 统一保存截图与测量数据。
- 数字键盘
- 配合屏幕字段完成数值输入，适合频繁调整测量参数的工作场景。
按测试系统需求扩展
通道扩展、光学接口及自动化数据对接可按项目讨论。平台资料提供 1–128 通道 MEMS 扩展方向；具体通道配置、节拍及接口协议需结合 DUT 确认。
SOFTWARE / 软件产品线
仪器测量、应用分发与技术服务协同
高效、简洁、模块化、平台化、标准化。让用户以更低的学习成本，实现自然切换与高效测量。
Web GUI × SCPI
让交互与自动化，使用一致的测量语言。
以直观界面减少操作负担，以标准化控制思路连接测试流程；围绕统一的配置、测量、分析与记录，让能力按需扩展，让工作流持续复用。具体接口与适配范围以产品版本为准。
MEASURE & ANALYZE
OVX-Studio
测量与分析工作台
测得清楚，结果可复核
- 单 / 双视图与多轨迹对比
- 单次 / 连续测量，统一操作流程
- 测量记录关联配置、校准与算法版本
- 量产线多机 Recipe 协同管理
DISTRIBUTE & MANAGE
OVX-StoreX
应用与版本管理平台
升级受控，能力按需扩展
- 软件、算法与驱动统一管理
- 兼容检查、测试准入与发布评审
- 在线 / 离线分发
- 授权与回滚管理
SERVICE & TRACE
OVX-Sever
技术服务与问题跟踪平台
01 工单与现场记录02 缺陷与修复版本03 验证记录与知识沉淀
问题有记录，处理有闭环
- 工单关联日志与现场截图
- 缺陷关联修复版本与验证记录
- 服务知识沉淀，减少重复沟通
界面为产品方案展示。功能开放范围、适配仪器与授权方式以具体交付版本为准。
05 / SELECTION GUIDE
选型前，先明确这些问题
应如何选择 Standard、Pulse 与 Pro？
先确认 DUT 波段及端口数量。C-band 单通道任务可从 Standard 讨论；O+C 双波段的 32 通道方案对应 Pulse；64 通道或更高 RL 动态范围需求对应 Pro，并需确认 EDFA 配置与测试条件。
多通道是否意味着所有通道同时采集？
本平台资料中的架构为 MEMS 1:N 自动轮巡，即按通道依次切换测量。实际测试节拍取决于扫描设置、通道数与分析任务，需要结合样品确认。
能否接入已有的自动化测试系统？
可以围绕项目需求讨论光电联合测试及自动化对接。请提供现有系统架构、所需数据格式与接口协议，具体支持范围以项目方案为准。
产品资料与样品测试如何申请？
提供被测件类型、关注指标、波段及通道数量，技术团队将据此确认配置、技术资料与样品验证安排。